Keithley 2606B 高密度  SMU 儀器  

2606B 高密度系統(tǒng) SourceMeter (SMU) 儀器在 1U 高的機箱中提供四條 20 瓦 SMU 通道。 由于制造商需要優(yōu)化占地空間并減少測試時間和成本，2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測試設備機架的需求。 此 SMU 為測試激光二極管、LED、2 和 3 端子半導體等生產(chǎn)的理想解決方案。

將密度提高 3 倍

當生產(chǎn)測試機架空間增加且您需要盡量減少增加新測試機架的需求時，與傳統(tǒng) 2U 外形的 SMU 相比，2606B 可以在同一機架區(qū)域中增加更多通道容量。

• ※方便堆疊和安放

• ※無需增加 1U 隔熱間距

• ※相同機架空間內(nèi)的通道數(shù)提高 3 倍

• ※通道數(shù)相同但占用空間減少 3 倍

兼具兩臺 2602B 的功能

在 1 U 外形中體驗相當于業(yè)內(nèi)當先的 Keithley 2602B 系統(tǒng) SourceMeter 的較好測量完整性、同步、速度和精度。2606B 也與 2602B 使用同樣的模擬、數(shù)字 I/O 和 TSP Link 連接器，實現(xiàn)無縫遷移。

• ※0.015% 基本測量精度

• ※6 1/2 位分辨率

• ※100nA 低電流范圍與 2pA 靈敏度

• ※8 針 Phoenix 模擬和 25 針數(shù)字 I/O 連接器

系統(tǒng)性能提供無與類比的生產(chǎn)吞吐量

測試腳本處理器 (TSP®) 技術可在 SMU 儀器內(nèi)嵌入和執(zhí)行完整測試程序，提供優(yōu)異性能。TSP-Link® 技術支持擴展多達 64 條通道，支持高速、SMU-per-pin 并行測試（而不使用主機）。<500 ns 時所有通道同時獨立受控。

• ※消除與 PC 之間耗時的總線通信

• ※兼容儀器 2602B SourceMeter 的 TSP 腳本代碼

• ※連接多達 32 個 TSP-Link 節(jié)點或 64 條獨立 SMU 通道

• ※隨著測試要求變化輕松重新配置

Keithley 2606B 高密度  SMU 儀器